La exploración del diminuto mundo de las estructuras a nivel microscópico y nanométrico es posible gracias a las técnicas de microscopía electrónica. Estas técnicas, que incluyen la microscopía electrónica de transmisión (TEM) y la microscopía electrónica de barrido (SEM), son fundamentales en la ciencia material moderna, biología y nanotecnología, ofreciendo alta magnificación y resolución espacial superior. Permiten a investigadores y científicos descubrir y analizar la esencia de los materiales y organismos, allí donde el ojo humano y los métodos tradicionales no alcanzan.
Claves para Entender
- Las técnicas avanzadas de microscopía electrónica son esenciales para estudiar materiales a escala nanométrica.
- La microscopía electrónica de transmisión permite análisis detallados con una resolución a nivel atómico.
- La microscopía electrónica de barrido es óptima para inspeccionar la morfología superficial de las muestras.
- La capacidad para alcanzar altas magnificaciones transforma investigación en campos como la nanotecnología y la biología molecular.
- La alta resolución espacial de estas técnicas provee una comprensión inédita de las estructuras microscópicas.
Introducción a las Técnicas de Microscopía Electrónica
Desde su concepción en la década de los años treinta del siglo pasado, la microscopía electrónica ha transformado nuestra capacidad para explorar el microuniverso. Ernst Ruska, pionero en el campo, fue el primero en demostrar el potencial de las bobinas magnéticas como lentes para los electrones, marcando así el nacimiento de una nueva era en el análisis estructural. Esta innovación ha permitido desentrañar los misterios de la materia a una escala previamente inaccesible.
Historia y evolución de la microscopía electrónica
A lo largo de los años, las técnicas de microscopía electrónica han evolucionado significativamente. Originándose con los primeros modelos desarrollados por Ruska, la tecnología de microscopía ha progresado hasta alcanzar niveles de resolución que permiten la visualización de estructuras individuales dentro de moléculas complejas, como las cadenas polipeptídicas de las proteínas, gracias a la contraste de fase y la preparación de muestras meticulosa.
Importancia en la caracterización de materiales
En el ámbito de la caracterización de materiales, la microscopía electrónica ocupa un lugar primordial. El análisis detallado que proporcionan estas técnicas, las cuales incluyen análisis de imágenes y difracción de electrones, ha sido esencial para el avance de la ciencia de materiales. Industrias de todo espectro confían en estas tecnologías para optimizar procesos de diseño y fabricación, asegurando la calidad y la eficiencia de sus productos finales.
| Año | Evolución Tecnológica | Contribución Científica |
|---|---|---|
| 1933 | Invención de la microscopía electrónica por Ernst Ruska | Permitió la observación de detalles sin precedentes a nivel micrométrico |
| Años 60 | Desarrollo de microscopios electrónicos de transmisión (TEM) | Revelación de la ultraestructura celular y subcelular |
| Años 80 | Introducción del contraste de fase y mejoras en la preparación de muestras | Mejora en la visualización y caracterización de las biomoléculas |
| Presente | Avances en análisis de imágenes y difracción de electrones | Capacidad para estudiar materiales a nivel atómico |
Los Fundamentos de la Microscopía Electrónica
El extraordinario detalle y precisión con que la microscopía electrónica permite examinar materiales a niveles microscópicos se debe a ciertos principios físicos que diferencian significativamente esta técnica de su contraparte óptica. Profundizando en estos fundamentos, podemos entender cómo la avanzada resolución espacial de la microscopía electrónica ha revolucionado numerosos campos de la ciencia y la tecnología.
Principios físicos detrás del poder de resolución
La clave del impresionante poder de resolución de la microscopía electrónica reside en el uso de longitudes de onda mucho más cortas. Los electrones, acelerados mediante un potencial de aceleración, adquieren una longitud de onda significativamente menor que la luz visible, lo que les permite detectar y generar imágenes de estructuras en la escala de los angstroms. Esta capacidad para ver detalles a nivel atómico se fundamenta en cómo los campos electromagnéticos manipulan los electrones, funcionando como lentes para enfocar y dirigir el haz de electrones hacia la muestra.
Diferencias entre microscopía óptica y electrónica
La microscopía óptica, por otro lado, utiliza fotones de luz visible. Debido a sus longitudes de onda relativamente mayores, alcanzan una resolución máxima limitada por el límite de difracción. En comparación, la microscopía electrónica trabaja en un régimen de vacío para evitar la interacción de los electrones con las partículas de aire, lo que distorsionaría las imágenes y reduciría la resolución espacial. Además, este ambiente controlado protege las muestras sensibles y permite la visualización de estructuras biológicas sutiles sin la interferencia de moléculas de aire.
| Característica | Microscopía Electrónica | Microscopía Óptica |
|---|---|---|
| Principio de Funcionamiento | Campos electromagnéticos aceleran electrones | Uso de fotones de luz visible |
| Longitud de Onda | Menor que 1 angstrom | Entre 400 y 700 nanómetros |
| Resolución Espacial | Alcanza el nivel atómico | Limitada por el límite de difracción |
| Condiciones Ambientales | Vacío para evitar interacciones con aire | Condiciones normales de aire |
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
La Microscopía Electrónica de Barrido (SEM), es una tecnología pivotal en el ámbito de la investigación material, ya que permite el estudio detallado de la morfología y composición de las muestras. Equipos avanzados que incorporan lentes electromagnéticas y bobinas deflectoras son capaces de lograr una alta magnificación y una resolución espacial impresionantes, haciendo posible un análisis pormenorizado y multifacético en numerosos sectores industriales.
Componentes y funcionamiento del SEM
El núcleo de la eficiencia del SEM reside en sus lentes electromagnéticas y bobinas deflectoras. Éstas funcionan conjuntamente para dirigir con precisión el haz de electrones sobre la superficie de la muestra, lo que permite escanearla punto por punto. El haz de electrones interactúa con los átomos de la muestra, generando una variedad de señales que contienen información acerca de su topografía, composición y propiedades eléctricas. Mirando más de cerca la capacidad de estas , es fácil comprender cómo funcionan para producir imágenes de tal calidad.
Aplicaciones industriales de la SEM
Industrias desde la metalúrgica hasta la biomédica se benefician enormemente de las aplicaciones del SEM. La técnica es particularmente valiosa en la inspección de superficies, fallos de materiales y en la ingeniería inversa de productos. La habilidad para detectar diferencias en la composición química e identificar fases distintas dentro de un material tiene implicaciones significativas, especialmente en la fabricación de componentes para la industria aeroespacial y automotriz, donde cada especificación cuenta.
| Industria | Uso de SEM | Beneficio |
|---|---|---|
| Aeroespacial | Inspección de aleaciones | Optimización de la resistencia y durabilidad |
| Electrónica | Estudio de circuitos y componentes | Prevención de fallos y mejora de rendimiento |
| Biomédica | Caracterización de biomateriales | Desarrollo de productos compatibles con tejidos humanos |
| Medioambiente | Análisis de contaminantes | Mejora en la calidad del aire y agua |
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
La Microscopía Electrónica de Transmisión, conocida por sus siglas TEM, se distingue por su excepcional alta resolución. Esta técnica es capaz de revelar estructuras en la escala atómica, facilitando grandes avances en campos como la nanotecnología. Su metodología de captura de imágenes, que se basa en los electrones que atraviesan la muestra, permite una visualización detallada de estructuras internas que otras técnicas no pueden igualar.
Al realizar una comparativa de capacidades entre el TEM y el SEM (Microscopía Electrónica de Barrido), es fundamental destacar que, mientras el TEM excels por su detallada resolución y capacidad de ofrecer una visión interna de las muestras, el SEM destaca en el análisis superficial, donde proporcina información acerca de la morfología y topografía.
La alta resolución y su impacto en la nanotecnología
La capacidad del TEM para trabajar con alta resolución ha desempeñado un papel crucial en la nanotecnología. Su potencial para visualizar y caracterizar nanoestructuras ofrece una ventana inigualable hacia la manipulación y comprensión de materiales a escalas que son esenciales para el desarrollo de tecnologías emergentes.
TEM versus SEM: Comparativa de capacidades
Entender la diferencia entre el TEM y el SEM es clave a la hora de seleccionar la herramienta adecuada para estudios específicos. El TEM resulta ser la opción ideal para la obtención de imágenes a nivel subatómico o para aquellos procesos donde se requiera un alto contraste de fase. En contraparte, el SEM es preferible para examinar la composición y las propiedades en la superficie de las muestras donde las dimensiones internas no son la prioridad.
La siguiente tabla ofrece una visión comparativa resaltando las capacidades distintivas de ambas técnicas:
| Característica | TEM | SEM |
|---|---|---|
| Resolución | Subatómica (hasta 0.1 nm) | Nanométrica (hasta 1 nm) |
| Tipo de análisis | Interno | Superficial |
| Preparación de muestra | Secciones ultrafinas | Superficies recubiertas |
| Contraste de fase | Alto | Variable |
Técnicas de Microscopía Electrónica de Transmisión con Barrido (STEM)
La Microscopía Electrónica de Transmisión con Barrido, conocida por sus siglas STEM, representa una fusión de dos potentes técnicas microscópicas. Al aprovechar las fortalezas de cada método, el STEM se ha establecido como una herramienta indispensable en el ámbito de la investigación y análisis químico.
Análisis de la composición química con STEM
El STEM se destaca por su habilidad para realizar análisis químico avanzado de materiales. Utilizando bobinas electromagnéticas de diseño especializado, esta técnica consigue barrer la muestra de manera precisa y recolectar datos sobre los electrones que la atraviesan. Este proceso resulta en un rico mapeo que detalla la composición y distribución de elementos químicos en la muestra con una resolución sin precedentes.
Innovaciones y mejoras en la tecnología STEM
Las continuas innovaciones tecnológicas en el campo de la microscopía han dotado al STEM de capacidades mejoradas para caracterizar materiales de manera más exacta y detallada. La incorporación de sistemas de adquisición de imágenes digitales y algoritmos de procesamiento avanzado permiten ahora interpretaciones más precisas que facilitan los descubrimientos en ciencia de materiales y nanotecnología.
Microscopía de Fuerzas Atómicas (AFM) y de Efecto de Túnel (STM)
En el campo de la caracterización de superficies, las técnicas de microscopía avanzada como la AFM (Microscopía de Fuerzas Atómicas) y la STM (Microscopía de Efecto de Túnel) han cobrado vital importancia. Estos métodos de alta precisión son esenciales para investigar las superficies atómicas y comprender a profundidad las propiedades mecánicas y propiedades eléctricas de los materiales en la nanoescala.
Explorando las superficies a nivel atómico con AFM y STM
La técnica AFM es fundamental para obtener imágenes de alta resolución de la topografía de una superficie. Opera mediante una punta afilada que rastrea el relieve del material, detectando las mínimas fuerzas de interacción entre la punta y la muestra. Por otro lado, la STM explora las superficies atómicas al aplicar una corriente de túnel entre la punta y la muestra, sensible a la distancia atómica que las separa, lo que permite mapear la densidad de estados electrónicos de la superficie.
Detección de propiedades mecánicas y eléctricas
Además de las topografías, el AFM puede ser utilizado para medir directamente las propiedades mecánicas, como la dureza y la elasticidad, por medio de la aplicación y medición de fuerzas a nivel nanométrico. En cuanto al STM, su habilidad para operar con voltajes y corrientes extremadamente bajos lo hace un instrumento perfecto para examinar las propiedades eléctricas de nanoestructuras y dispositivos electrónicos a escala atómica.
Avances en la Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica
La preparación de muestras constituye una de las fases más cruciales en la microscopía electrónica. Este proceso no solo requiere de una meticulosa atención al detalle, sino que también una constante innovación para mejorar la calidad de las imágenes y la preservación estructural de las muestras. Las recientes innovaciones en este campo han contribuido significativamente a la eficacia y precisión del análisis de imágenes y la micrografía electrónica.
Entre las técnicas avanzadas, la tinción negativa resalta como un método invaluable para aumentar el contraste en muestras biológicas, permitiendo una visualización mejorada de virus y biomoléculas. Además, la criomicroscopía electrónica ha revolucionado el estudio de complejos macromoleculares, gracias a su capacidad para conservar la muestra en un estado cercano a sus condiciones nativas.
La criopreservación es una técnica vital que implica congelar rápidamente la muestra para formar hielo vítreo, que no cristaliza y, por lo tanto, no distorsiona la estructura molecular de la muestra. Este hielo, transparente a los electrones, es esencial para proteger las muestras contra los efectos dañinos del vacío y la radiación electrónica durante el examen bajo el microscopio electrónico.
| Técnica | Descripción | Aplicación |
|---|---|---|
| Tinción negativa | Utiliza sales pesadas para contrastar la muestra contra un fondo oscuro. | Visualización detallada de partículas virales y estructuras celulares. |
| Criomicroscopía electrónica | Preserva las muestras biológicas en hielo vítreo a bajas temperaturas. | Estudio de proteínas y complejos macromoleculares en su estado nativo. |
Mantener la estructura nativa de las muestras biológicas durante la preparación es un hito en la micrografía electrónica que permite un análisis más exacto y revelador.
Estos avances técnicos en la preparación de muestras no solo maximizan los resultados del análisis de imágenes, sino que abren nuevas puertas para descubrimientos científicos a través de la micrografía electrónica.
Optimización de la Resolución Espacial en la Microscopía Electrónica
La búsqueda constante por mejorar la resolución espacial ha llevado a la implementación de diversas tecnologías en la microscopía electrónica. La integridad y el detalle de las imágenes obtenidas son cruciales para el análisis a nivel microscópico y nanométrico. La adopción de filtros de energía y correctores de aberraciones ha marcado un hito en la historia de la microscopía, permitiendo a los científicos discernir estructuras con una claridad nunca antes disponible.
Filtros de energía y correctores de aberraciones
Los filtros de energía son esenciales para mejorar el contraste y la resolución al permitir solo aquellos electrones con energías específicas a través de la muestra. Mientras tanto, los correctores de aberraciones, como los monocromadores y los correctores de aberración esférica, actúan refinando la dirección y enfoque del haz de electrones. Esta sinergia de componentes mejora significativamente la resolución espacial al reducir las distorsiones que de otra manera limitarían la calidad de las imágenes.
Logros en la resolución espacial: Beneficios prácticos
Los avances en la resolución espacial no solamente exaltan el poder de la visualización, sino que también ofrecen ventajas prácticas sustanciales. Al aumentar la resolución, es posible lograr un diagóstico más acertado de fallos estructurales y quirúrgicos en materiales, lo que conduce a desarrollos más robustos y seguros. Observemos más en detalle estas ventajas:
| Mejora | Impacto | Aplicación Práctica |
|---|---|---|
| Resolución de imágenes | Identificación precisa de patrones atómicos | Análisis de fallos en microelectrónica |
| Contraste de fase | Visualización de especies de bajo contraste atómico | Estudio de biomoléculas en contexto celular |
| Correctores de aberraciones | Imágenes libres de distorsiones geométricas | Optimización de materiales compuestos |
Análisis de Imágenes y Procesamiento en Micrografía Electrónica
El análisis de imágenes y el procesamiento de micrografías en el campo de la micrografía electrónica han evolucionado de manera significativa gracias a los avances tecnológicos. Actualmente, disponemos de cámaras digitales avanzadas con sensores CCD, capaces de capturar imágenes de alta magnificación con gran sensibilidad y precisión. Estos dispositivos son esenciales para lograr un registro fidedigno de los patrones de dispersión de electrones, facilitando un análisis detallado y proporcionando una comprensión más profunda de las muestras.
La aplicación de las tecnologías CCD en la microscopía ha impulsado notablemente el procesamiento de micrografías. Con la ayuda de poderosas herramientas de software, los científicos pueden reconstruir imágenes electrónicas con una claridad y precisión que antes resultaba impensable. Estos programas permiten detectar y corregir anomalías en tiempo real, mejorando así la calidad y la fiabilidad del análisis de imágenes.
En el ámbito de la investigación, estos avances en el análisis de imágenes ofrecen diversas posibilidades para estudios de materias, desde análisis de nanomateriales hasta investigaciones biomédicas. La micrografía electrónica, combinada con el procesamiento digital avanzado, aporta datos valiosos para múltiples disciplinas que buscan una visión más completa y detallada a alta magnificación de sus muestras.
Aplicación de las Técnicas de Microscopía Electrónica en la Ingeniería Forense
La incorporación de las técnicas de microscopía electrónica dentro del campo de la ingeniería forense ha revolucionado la manera en que los expertos llevan a cabo el diagnóstico de fallos y la prevención de averías. Estas tecnologías permiten una mirada inigualable a las superficies de fractura y a los detalles que a simple vista serían imperceptibles.
Diagnósticos de fallos y averías a través de la microscopía
El análisis meticuloso de las muestras con microscopía electrónica proporciona evidencia crucial en la identificación de las causas raíces en fallas de materiales y productos. Esta información es vital para tomar decisiones informadas en procesos judiciales y técnicos, y para implementar acciones correctivas que eviten futuros incidentes.
Contribuciones al desarrollo y optimización de materiales
El impacto de la microscopía electrónica se extiende también a la optimización de materiales. Algunos servicios de ingeniería especializados utilizan estas técnicas para profundizar en el conocimiento de las propiedades de los materiales, lo que permite innovar en la fabricación de componentes avanzados con características mejoradas.
| Propiedad Material | Análisis SEM | Análisis TEM |
|---|---|---|
| Morfología | Alta definición superficial | Visión interna detallada |
| Composición Química | Análisis cualitativo y cuantitativo | Cartografía elemental precisa |
| Propiedades Mecánicas | Estudio de fracturas y fallas | Información sobre deformaciones internas |
| Optimización de Procesos | Mejora continua a nivel superficial | Perfeccionamiento de la estructura interna |
Los servicios de ingeniería especializados continúan desenvolviendo nuevas técnicas que amplían las capacidades del diagnóstico y análisis en ingeniería forense. Con estas herramientas de microscopía electrónica, la ingeniería puede seguir avanzando hacia materiales más seguros y procesos más eficientes.
El Futuro de las Técnicas de Microscopía Electrónica
La alta magnificación y las tendencias en investigación actuales anticipan un escenario futuro donde las innovaciones tecnológicas desempeñarán un papel crucial en el avance de la microscopía electrónica. Estamos al borde de una nueva era en la que el conocimiento de los materiales, las ciencias de la vida y la nanoingeniería se engranarán perfectamente gracias a las mejoras constantes en la resolución espacial y las capacidades de análisis que ofrecen estas técnicas.
Innovaciones tecnológicas en el horizonte
El constante impulso hacia la miniaturización de dispositivos y el mejor entendimiento de estructuras biológicas complejas coloca a las innovaciones tecnológicas en el eje central para el futuro de la microscopía. La incorporación de tecnologías emergentes, como la inteligencia artificial y la computación cuántica, promete revolucionar los métodos de observación a escalas que antes parecían inalcanzables.
Tendencias y nuevas direcciones en la investigación
Las tendencias en investigación en campos como la biotecnología y la nanotecnología se ven enormemente beneficiadas por el progreso en la técnica microscópica. Se prevé que la combinación de métodos de observación a alta magnificación con herramientas analíticas avanzadas abrirá nuevas direcciones en la investigación fundamental y aplicada, facilitando descubrimientos en la frontera del conocimiento científico.
| Innovación | Impacto esperado | Áreas Beneficiadas |
|---|---|---|
| Inteligencia Artificial | Interpretación automática de datos | Biología, Materiales, Nanotecnología |
| Nanoscopía | Visualización de estructuras a nivel molecular | Medicina, Farmacéutica |
| Microscopía crioelectrónica | Conservación de estructuras biológicas nativas | Biotecnología, Investigación Molecular |
Conclusión
La evolución de las técnicas de microscopía electrónica ha marcado un hito en la historia de la ciencia, proporcionando una ventana hacia el infinitesimal mundo de lo no visible. El progreso en la resolución espacial y las avanzadas capacidades de microscopía ha sido crucial para entender con gran precisión la estructura de distintos materiales y biomoléculas. El análisis profundo que estas técnicas permiten, con una alta magnificación, constituye una parte esencial del trabajo investigativo y de caracterización en sectores como la medicina, la nanotecnología y la ingeniería de materiales.
En la actualidad, el análisis de muestras mediante microscopía electrónica es un aspecto ineludible en investigaciones que requieren una observación detallada a nivel atómico o molecular. La capacidad de distinguir con tal grado de detalle posibilita no solo un conocimiento más profundo sino también una aplicación práctica en el diseño y mejora de productos y procesos industriales. Esta fusión entre ciencia aplicada y tecnológica, es lo que permite a las técnicas de microscopía electrónica ser una herramienta de valor incalculable para el progreso técnico y científico.
La inversión continua en I+D y la integración con tecnologías emergentes pronostican un futuro en donde las limitaciones actuales serán superadas, abriendo nuevos caminos para el avance del conocimiento humano. Mientras la ciencia siga su marcha hacia adelante, podemos asegurar que la microscopía electrónica se adaptará y evolucionará, manteniendo su lugar como un pilar en el análisis y caracterización a escalas minúsculas.
FAQ
¿En qué consisten las técnicas de microscopía electrónica?
Las técnicas de microscopía electrónica implican el uso de electrones para obtener imágenes de alta magnificación y resolución espacial de muestras que no pueden ser discernidas efectivamente con microscopía óptica. Se utilizan principalmente para la caracterización detallada de materiales en diversas aplicaciones científicas y técnicas.
¿Cuál es la diferencia entre la microscopía electrónica de barrido (SEM) y la microscopía electrónica de transmisión (TEM)?
La principal diferencia entre SEM y TEM es que SEM produce imágenes a partir de electrones que interactúan con la superficie de la muestra, lo cual es útil para explorar la morfología y composición superficial, mientras que TEM utiliza electrones que han pasado a través de una muestra ultrafina, proporcionando detalles internos con una resolución atómica.
¿Cómo ha evolucionado la microscopía electrónica desde su invención?
Desde su invención por Ernst Ruska, la microscopía electrónica ha avanzado hasta alcanzar resoluciones a nivel atómico y ha incorporado diversas técnicas, como criomicroscopía electrónica y microscopía de fuerzas atómicas, entre otras, para una caracterización más completa de las muestras.
¿Cuáles son algunas de las aplicaciones industriales de la SEM?
La SEM es utilizada en una amplia gama de aplicaciones industriales que incluyen el análisis de fallas, control de calidad de materiales, investigación y desarrollo de nuevos productos, y mucho más, gracias a su capacidad para obtener información detallada sobre la textura y composición química de las superficies.
¿Qué mejoras tecnológicas se han implementado en la microscopía electrónica de transmisión con barrido (STEM)?
En STEM, se han incorporado avances como detectores mejorados, correctores de aberración y avances en el procesamiento de imágenes para obtener información más precisa y detallada, tanto estructural como química, de las muestras.
¿Qué es la microscopía de fuerzas atómicas (AFM) y cómo se compara con la microscopía electrónica?
La AFM es una técnica que utiliza una punta muy fina para rastrear la topografía de una superficie a nivel atómico, midiendo las interacciones entre la punta y la muestra. A diferencia de la microscopía electrónica, la AFM puede operar en ambientes no vacíos y puede proporcionar información sobre las propiedades mecánicas y eléctricas de la superficie.
¿Qué retos presenta la preparación de muestras para la microscopía electrónica?
La preparación de muestras para la microscopía electrónica debe ser meticulosa para evitar daños a la muestra por el haz de electrones y el vacío necesario para estas técnicas. Los métodos de preparación buscan preservar la estructura nativa de la muestra y mejorar el contraste.
¿Cómo se ha mejorado la resolución espacial en la microscopía electrónica?
La resolución espacial se ha optimizado mediante el desarrollo de filtros de energía, correctores de aberraciones y el refinamiento de las técnicas de detección y procesamiento de imágenes, permitiendo capturar detalles en la escala de los átomos.
¿Qué papel desempeñan las técnicas de microscopía electrónica en la ingeniería forense?
En la ingeniería forense, la microscopía electrónica es crucial para la investigación de fallos en materiales y para la determinación de las causas de averías, mediante el estudio de fracturas y la identificación de defectos a nivel microscópico.
¿Qué avances se anticipan para el futuro de la microscopía electrónica?
Se espera que el futuro de la microscopía electrónica incluya avances en la resolución y unidades de magnificación, técnicas de preparación de muestras menos invasivas, y la integración de la inteligencia artificial para la interpretación automática de imágenes, abriendo nuevas posibilidades para la investigación a nivel nanométrico.
Enlaces de origen
- https://www.infinitiaresearch.com/noticias/tecnicas-de-microscopia-para-caracterizacion-de-materiales/
- https://www.studocu.com/es/document/universidad-francisco-de-vitoria/tecnicas-instrumentales-avanzadas/microscopia-electronica/36840887
- http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S2448-56912020000200101
